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电子元器件可靠性工程

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MD5：4b6686b6aa214c2531c743a4b4b4de09

ISBN：7505377922

出版社：北京：电子工业出版社

作者：孙青等编著

出版时间：2002

电子元器件可靠性试验工程

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文件大小：32MB　标注页数：350页　文件页数：366页

MD5：eceb963b4cf918888c0ff96442622e79

ISBN：712100965X

出版社：北京：电子工业出版社

作者：罗雯，魏建中，阳辉等编著

出版时间：2005

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