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微电子技术的可靠性 互连、器件及系统
文件大小:40MB 标注页数:179页 文件页数:191页
MD5:1e6b4302abaf5392b7b23301cc4c1b25
ISBN:9787030376060
出版社:北京:科学出版社
作者:(瑞典)刘建影(JohanLiu)著
出版时间:2013
文件大小:40MB 标注页数:179页 文件页数:191页
MD5:1e6b4302abaf5392b7b23301cc4c1b25
ISBN:9787030376060
出版社:北京:科学出版社
作者:(瑞典)刘建影(JohanLiu)著
出版时间:2013