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半导体器件可靠性技术
文件大小：8MB 标注页数：134页 文件页数：139页
MD5：ebc7138ac9134e6ce6c2d8c260f36bd0
ISBN：
出版社：可靠性与环境试验编辑部
作者：王炫华译
出版时间：1979
半导体器件可靠性物理
文件大小：24MB 标注页数：601页 文件页数：615页
MD5：c63e35c52ebc6f092743ae1099cf90e0
ISBN：5031·879
出版社：北京：科学出版社
作者：高光渤，李学信编著
出版时间：1987
半导体器件可靠性专集
文件大小：44MB 标注页数：165页 文件页数：169页
MD5：cab6da22993d6418985a830b70dd3178
ISBN：
出版社：科学技术文献出版社
作者：中国科学技术情报研究所重庆分析编
出版时间：1974
半导体器件可靠性选用手册
文件大小：16MB 标注页数：691页 文件页数：706页
MD5：f00a399d9d1c29cdd5afb857f6f75177
ISBN：
出版社：上海市广播电视工业
作者：上海市广播电视工业公司著
出版时间：未知
功率半导体器件 原理、特性和可靠性
文件大小：211MB 标注页数：435页 文件页数：448页
MD5：1f118561bfd6df608a7f8ef8438b4fed
ISBN：9787111417279
出版社：北京：机械工业出版社
作者：（德）卢茨著
出版时间：2013
半导体器件可靠性与失效分析
文件大小：18MB 标注页数：279页 文件页数：290页
MD5：dbeb042a8896d38a748c56c31a4aaf2c
ISBN：15196·054
出版社：南京：江苏科学技术出版社
作者：卢其庆，张安康编
出版时间：1981
技术交流资料汇编半导体器件可靠性
文件大小：12MB 标注页数：0页 文件页数：195页
MD5：8e3704b8b1a56cebf47e6ff5bc1e8604
ISBN：
出版社：
作者：
出版时间：未知
半导体器件的可靠性 专集
文件大小：13MB 标注页数：165页 文件页数：169页
MD5：8a6e1d19240fd8c5f7255e47eacc1cfc
ISBN：
出版社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
作者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
出版时间：1974