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公差配合与几何精度检测
文件大小：14MB 标注页数：230页 文件页数：242页
MD5：19ecac6a9a518acce138cb84e8c55c17
ISBN：9787115168320
出版社：北京：人民邮电出版社
作者：王宇平主编
出版时间：2007
几何量公差与检测 第3版
文件大小：13MB 标注页数：272页 文件页数：280页
MD5：b9803e62a646807c5ad71f064d523e38
ISBN：7532330885
出版社：上海：上海科学技术出版社
作者：甘永立主编
出版时间：1993
几何量公差与检测 第4版
文件大小：70MB 标注页数：302页 文件页数：313页
MD5：5884f89793db95ba34d4bed2db052d06
ISBN：7532342964
出版社：上海：上海科学技术出版社
作者：甘永立主编
出版时间：1985
几何量公差与检测 第8版
文件大小：75MB 标注页数：280页 文件页数：290页
MD5：b9c43d3beb8e774a77d58d5eee7e8660
ISBN：9787532391110
出版社：上海：上海科学技术出版社
作者：甘永立主编
出版时间：2008
几何量公差与检测 第7版
文件大小：14MB 标注页数：276页 文件页数：285页
MD5：9d856adb07bb6452c1dc744189e7f0b7
ISBN：7532379809
出版社：上海：上海科学技术出版社
作者：甘永立主编
出版时间：2005