图书介绍

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测试技术
  • 彭俊彬主编;岳建海副主编 著
  • 出版社: 北京:北京交通大学出版社
  • ISBN:9787512113244
  • 出版时间:2013
  • 标注页数:169页
  • 文件大小:45MB
  • 文件页数:179页
  • 主题词:测试技术-高等学校-教材

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图书目录

绪论 1

第1章 信号描述 5

1.1 信号分类及描述 5

1.2 周期信号的频谱 9

1.3 瞬变非周期信号的频谱 14

复习参考题 23

第2章 测试装置的基本特性 24

2.1 概述 24

2.2 测试系统的静态特性 27

2.3 测试系统的动态特性 29

2.4 测试系统的响应特性 37

2.5 测试系统不失真测量的条件 39

2.6 测试系统动态特性的测量 41

2.7 测试系统的负载效应 44

2.8 测试系统的抗干扰问题 45

复习参考题 47

第3章 常用传感器 48

3.1 传感器的基本概念 48

3.2 电阻、电容和电感式传感器 49

3.3 磁电、压电和热电式传感器 60

3.4 半导体传感器 71

3.5 传感器的选用原则 79

复习参考题 81

第4章 信号的调理与记录 83

4.1 电桥 83

4.2 调制与解调 88

4.3 滤波器 94

4.4 信号的放大 99

4.5 信号的显示与记录 102

复习参考题 105

第5章 信号的分析与处理 107

5.1 数字信号处理概述 107

5.2 信号的相关分析及应用 113

5.3 信号的功率谱分析及应用 121

5.4 D/A与A/D转换 126

复习参考题 131

第6章 测试技术的工程应用 132

6.1 应变、应力的测量 132

6.2 力的测量 137

6.3 转矩的测量 143

6.4 温度的测量 145

复习参考题 152

第7章 计算机测试系统与虚拟仪器 153

7.1 自动测试系统 153

7.2 智能仪器 157

7.3 虚拟仪器 159

复习参考题 163

附录A 模拟试题 164

A1 模拟试题一 164

A2 模拟试题二 166

参考文献 169

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