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绪论 1

第1章 X射线物理学基础 6

X射线的产生及其性质 6

X射线谱 14

X射线与物质的相互作用 21

X射线的衰减规律及其应用 26

X射线的探测与防护 31

习题 32

第2章 晶体和空间点阵 34

晶体的概念 34

对称结构与点阵 38

晶胞、晶系和空间点阵形式 41

阵点坐标、晶向指数、晶面指数和晶面间距 45

倒易点阵 51

晶体的投影 59

晶带和晶体的标准极图 63

晶体的对称性 68

点群 77

空间群 84

晶体的外形 90

晶体结构符号 92

习题 93

第3章 X射线衍射方向 94

劳厄方程 95

布拉格方程 99

衍射矢量方程和厄瓦尔德图解 103

X射线衍射实验方法概述 104

习题 111

第4章 X射线衍射强度 112

晶胞中原子位置与衍射线束强度间的关系 112

一个电子的散射 113

一个原子的散射 115

一个晶胞对X射线的散射 119

影响衍射强度的几种因子 122

粉末晶体衍射强度计算 135

习题 138

第5章 X射线衍射方法 140

X射线源 141

测角仪 143

单色器 146

辐射探测器 148

测量系统 152

试样的制备方法 153

仪器条件的准备 158

具体实验条件的选定 158

衍射数据采集和数据处理的自动化 163

习题 172

第6章 X射线物相分析 173

物相定性分析原理 173

粉末衍射数据库 174

定性相分析的一般步骤 184

物相定量分析 192

习题 208

第7章 点阵常数的精确测定 210

X射线衍射图谱指标化 210

利用计算机和专业软件进行指标化 215

晶胞参数的精确测定 220

精确测定晶胞参数的方法 223

点阵常数精确测定的应用 227

利用专用软件计算晶格常数 232

习题 233

第8章 宏观残余应力的测定 235

内应力的产生与分类 235

X射线测定应力的基本原理 238

X射线宏观残余应力测定方法 242

残余应力计算软件的使用 245

习题 248

第9章 晶粒尺寸和微观应力的测定 249

X射线谱线的宽化 249

仪器宽度的扣除 253

晶粒细化和微观应力两种物理宽化量的分离 253

利用专用软件同时测定晶粒尺寸和微观应变 254

习题 260

第10章 全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件 261

Rietveld方法的基本原理 262

Rietveld方法中衍射峰的线形分析 264

Rietveld分析中的校正 267

Rietveld结构精修方法与步骤 269

Rietveld方法的相定量分析 271

全谱拟合与Rietveld精修计算软件 274

习题 290

附录1 质量吸收系数 291

附录2 原子散射因子 294

附录3 角因子（洛伦兹-偏振因子） 298

参考文献 301