图书介绍
数字电子技术基础 系统方法pdf电子书版本下载
- （美）弗洛伊德著；娄淑琴，盛新志，申艳译 著
- 出版社： 北京：机械工业出版社
- ISBN：9787111464846
- 出版时间：2014
- 标注页数：528页
- 文件大小：104MB
- 文件页数：541页
- 主题词：数字电路－电子技术－教材
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图书目录
第1章 数字系统简介 1
1.1 数字和模拟信号及系统 1
1.2 二进制数字、逻辑电平和数字波形 5
1.3 逻辑运算 9
1.4 组合和时序逻辑功能 11
1.5 可编程逻辑 14
1.6 固定功能逻辑器件 18
1.7 数字系统举例 20
1.8 测量仪器 22
小结 28
关键术语 28
是非测试题 29
自测题 29
习题 30
各节测试题答案 31
相关问题答案 32
是非测试题答案 32
自测题答案 32
第2章 数制、运算和编码 33
2.1 十进制 33
2.2 二进制 34
2.3 十进制与二进制间的转换 36
2.4 二进制算术运算 39
2.5 二进制数的反码和补码 41
2.6 带符号数 42
2.7 带符号数的算术运算 47
2.8 十六进制 52
2.9 八进制 56
2.10 二-十进制码 58
2.11 数字编码 61
2.12 误码检测 66
小结 70
关键术语 70
是非测试题 71
自测题 71
习题 72
各节测试题答案 75
相关问题答案 76
是非测试题答案 77
自测题答案 77
第3章 逻辑门和组合门 78
3.1 布尔代数简介 78
3.2 反相器 83
3.3 与门 85
3.4 或门 89
3.5 与非门 92
3.6 或非门 94
3.7 异或门和同或门 97
3.8 门的性能特性及参数 99
3.9 可编程逻辑 102
3.10 故障排除 108
小结 111
关键术语 112
固定功能逻辑器件 113
是非测试题 113
自测题 113
习题 114
拓展题 117
Muitisim故障排除练习 117
各节测试题答案 117
相关问题答案 118
是非测试题答案 119
自测题答案 119
第4章 组合逻辑 120
4.1 基本组合逻辑电路 120
4.2 布尔表达式和真值表 123
4.3 摩根定理 128
4.4 与非门和或非门的通用特性 129
4.5 脉冲波形运算 130
4.6 用VHDL和Verilog描述组合逻辑 132
4.7 储液罐系统 137
4.8 故障排除 140
小结 144
关键术语 145
是非测试题 145
自测题 145
习题 146
拓展题 150
Muitisim故障排除练习 150
各节测试题答案 150
相关问题答案 151
是非测试题答案 152
自测题答案 152
第5章 组合逻辑功能模块 153
5.1 药片瓶装系统 153
5.2 半加器与全加器 157
5.3 并行加法器 159
5.4 串行进位与超前进位加法器 163
5.5 比较器 165
5.6 译码器 167
5.7 编码器 173
5.8 码转换器 176
5.9 复用器（数据选择器） 177
5.10 解复用器 183
5.11 奇偶发生器／校验器 184
5.12 逻辑功能模块的VHDL和Verilog描述 186
5.13 故障排除 189
小结 191
关键术语 191
固定功能逻辑器件 192
是非测试题 192
自测题 192
习题 193
拓展题 197
Muitisim故障排除练习 197
各节测试题答案 197
相关问题答案 198
是非测试题答案 199
自测题答案 199
第6章 锁存器、触发器与定时器 200
6.1 交通信号控制系统 200
6.2 锁存器 203
6.3 触发器 207
6.4 触发器的工作特性 215
6.5 定时器 217
6.6 双稳态逻辑的VHDL和Verilog描述 221
6.7 交通信号控制系统的VHDL和Verilog描述 223
6.8 故障排除 229
小结 235
关键术语 236
是非测试题 236
自测题 236
习题 237
拓展题 241
Muitisim故障排除练习 241
各节测试题答案 241
相关问题答案 242
是非测试题答案 242
自测题答案 242
第7章 移位寄存器 243
7.1 安全系统 243
7.2 基本移位寄存器的工作原理 245
7.3 移位寄存器的类型 246
7.4 双向移位寄存器 252
7.5 移位寄存器型计数器 253
7.6 安全系统的VHDL和Verilog描述 257
7.7 故障排除 260
小结 264
关键术语 264
固定功能逻辑器件 264
是非测试题 264
自测题 265
习题 265
拓展题 268
Multisim故障排除练习 268
各节测试题答案 268
相关问题答案 269
是非测试题答案 269
自测题答案 269
第8章 计数器 270
8.1 计时系统 270
8.2 有限状态机 272
8.3 异步计数器 273
8.4 同步计数器 278
8.5 加／减同步计数器 282
8.6 级联计数器 285
8.7 计数器译码 288
8.8 计数器的VHDL和Verilog描述 289
8.9 故障排除 291
小结 294
关键术语 295
固定功能逻辑器件 295
是非测试题 295
自测题 295
习题 296
拓展题 299
Multisim故障排除练习 299
各节测试题答案 299
相关问题答案 300
是非测试题答案 300
自测题答案 300
第9章 可编程逻辑 301
9.1 简单可编程逻辑器件 301
9.2 复杂可编程逻辑器件 305
9.3 宏单元模式 310
9.4 现场可编程门阵列 311
9.5 可编程逻辑软件 316
9.6 边界扫描逻辑 323
9.7 故障排除 329
小结 333
关键术语 333
是非测试题 334
自测题 334
习题 335
各节测试题答案 338
相关问题答案 338
是非测试题答案 338
自测题答案 338
第10章 存储器 339
10.1 存储系统层次结构 339
10.2 半导体存储器基础 342
10.3 随机存取存储器 345
10.4 只读存储器 355
10.5 可编程ROM 358
10.6 闪速存储器 360
10.7 存储器扩展 363
10.8 特殊类型的存储器 367
10.9 磁和光存储器 371
10.10 故障排除 375
小结 377
关键术语 378
是非测试题 378
自测题 378
习题 379
各节测试题答案 381
相关问题答案 382
是非测试题答案 382
自测题答案 382
第11章 数据传输 383
11.1 数据传输媒质 383
11.2 数据传输方式与传输模式 386
11.3 数字信号调制模拟信号 390
11.4 模拟信号调制数字信号 392
11.5 复用与解复用 397
11.6 传输媒质对数据质量的影响 401
小结 404
关键术语 405
是非测试题 406
自测题 406
习题 407
各节测试题答案 408
相关问题答案 409
是非测试题答案 409
自测题答案 409
第12章 信号转换与处理 410
12.1 太阳方位跟踪系统 410
12.2 模拟信号转换成数字信号 414
12.3 模-数转换方法 418
12.4 数-模转换方法 425
12.5 数字信号处理 431
12.6 数字信号处理器 432
小结 437
关键术语 437
是非测试题 437
自测题 437
习题 438
各节测试题答案 440
相关问题答案 441
是非测试题答案 441
自测题答案 441
第13章 数据处理与控制 442
13.1 基本计算机系统 442
13.2 实际计算机系统的考虑因素 445
13.3 CPU的基本操作 449
13.4 CPU的寻址模式 454
13.5 CPU的特定操作 458
13.6 操作系统和硬件 463
13.7 编程 465
13.8 微控制器和嵌入式系统 469
小结 474
关键术语 475
是非测试题 475
自测题 476
习题 476
各节测试题答案 478
相关问题答案 479
是非测试题答案 479
自测题答案 479
第14章 总线、网络和接口 480
14.1 总线基础 480
14.2 总线接口 484
14.3 并行总线 487
14.4 通用串行总线 492
14.5 其他串行总线 495
14.6 网络拓扑结构 500
14.7 网络协议技术 503
小结 507
关键术语 508
是非测试题 508
自测题 509
习题 510
各节测试题答案 512
相关问题答案 513
是非测试题答案 513
自测题答案 513
术语表 514