图书介绍

C-MOS电路之故障原因与对策pdf电子书版本下载

C-MOS电路之故障原因与对策
  • 王政友编著 著
  • 出版社: 无线电界杂志社
  • ISBN:
  • 出版时间:1982
  • 标注页数:142页
  • 文件大小:2MB
  • 文件页数:148页
  • 主题词:

PDF下载


点此进入-本书在线PDF格式电子书下载【推荐-云解压-方便快捷】直接下载PDF格式图书。移动端-PC端通用
种子下载[BT下载速度快] 温馨提示:(请使用BT下载软件FDM进行下载)软件下载地址页 直链下载[便捷但速度慢]   [在线试读本书]   [在线获取解压码]

下载说明

C-MOS电路之故障原因与对策PDF格式电子书版下载

下载的文件为RAR压缩包。需要使用解压软件进行解压得到PDF格式图书。

建议使用BT下载工具Free Download Manager进行下载,简称FDM(免费,没有广告,支持多平台)。本站资源全部打包为BT种子。所以需要使用专业的BT下载软件进行下载。如 BitComet qBittorrent uTorrent等BT下载工具。迅雷目前由于本站不是热门资源。不推荐使用!后期资源热门了。安装了迅雷也可以迅雷进行下载!

(文件页数 要大于 标注页数,上中下等多册电子书除外)

注意:本站所有压缩包均有解压码: 点击下载压缩包解压工具

图书目录

第一章 C-MOS IC 1

1 C-MOS之构造与动作原理 1

2 C-MOS IC之特长 5

第二章 C-MOS IC之特性 11

1 C-MOS IC之基本特性 11

2 规格与有关数据 16

3 标准C-MOS IC之规格 19

1 由静电破坏所引起之故障 23

第三章 C-MOS电路之故障——原因与对策 23

2 由Latch up现象所引起之障害 30

3 由於Slow-Clock所引起之异常与防止对策 40

4 由杂音所引起之异常 51

5 由电源部分所引起之异常与防止对策 64

6 由Hazard所引起之异常 75

7 由温度所引起之异常 89

8 其他原因所引起之异常 97

9 由Interface之不良所引起之异常 109

第四章 C-MOS之信赖性与fail-Safe之问题 121

精品推荐