图书介绍
C-MOS电路之故障原因与对策pdf电子书版本下载
- 王政友编著 著
- 出版社: 无线电界杂志社
- ISBN:
- 出版时间:1982
- 标注页数:142页
- 文件大小:2MB
- 文件页数:148页
- 主题词:
PDF下载
点此进入-本书在线PDF格式电子书下载【推荐-云解压-方便快捷】直接下载PDF格式图书。移动端-PC端通用
种子下载[BT下载速度快]
温馨提示:(请使用BT下载软件FDM进行下载)软件下载地址页
直链下载[便捷但速度慢]
[在线试读本书]
[在线获取解压码]
下载说明
C-MOS电路之故障原因与对策PDF格式电子书版下载
下载的文件为RAR压缩包。需要使用解压软件进行解压得到PDF格式图书。建议使用BT下载工具Free Download Manager进行下载,简称FDM(免费,没有广告,支持多平台)。本站资源全部打包为BT种子。所以需要使用专业的BT下载软件进行下载。如 BitComet qBittorrent uTorrent等BT下载工具。迅雷目前由于本站不是热门资源。不推荐使用!后期资源热门了。安装了迅雷也可以迅雷进行下载!
(文件页数 要大于 标注页数,上中下等多册电子书除外)
注意:本站所有压缩包均有解压码: 点击下载压缩包解压工具
图书目录
第一章 C-MOS IC 1
1 C-MOS之构造与动作原理 1
2 C-MOS IC之特长 5
第二章 C-MOS IC之特性 11
1 C-MOS IC之基本特性 11
2 规格与有关数据 16
3 标准C-MOS IC之规格 19
1 由静电破坏所引起之故障 23
第三章 C-MOS电路之故障——原因与对策 23
2 由Latch up现象所引起之障害 30
3 由於Slow-Clock所引起之异常与防止对策 40
4 由杂音所引起之异常 51
5 由电源部分所引起之异常与防止对策 64
6 由Hazard所引起之异常 75
7 由温度所引起之异常 89
8 其他原因所引起之异常 97
9 由Interface之不良所引起之异常 109
第四章 C-MOS之信赖性与fail-Safe之问题 121