图书介绍

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数字电路的诊断与测试
  • 王文章编著 著
  • 出版社: 西安:西安交通大学出版社
  • ISBN:756050390X
  • 出版时间:1991
  • 标注页数:403页
  • 文件大小:9MB
  • 文件页数:414页
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图书目录

目录 1

第一章 概论 1

第一节 故障的定义与分类 1

第二节 逻辑故障模型 7

第三节 逻辑故障分析 9

第四节 数字系统的测试 12

第五节 故障的检测和诊断 14

习题 19

第二章 布尔方程组的解法 21

第一节 数字电路及数学模型 21

第二节 代数法 24

第三节 方阵求解法 28

第四节 通路求解法 39

习题 53

第三章 通路敏化法 57

第一节 一维通路敏化法 57

第二节 D算法 60

第三节 主通路敏化法 69

第四节 消去法 91

习题 97

第四章 布尔差分法 100

第一节 一阶布尔差分 100

第二节 布尔差分的计算方法 109

第三节 高阶布尔差分 117

第四节 布尔微分 121

习题 125

第五章 故障字典 127

第一节 建立故障字典的无关通路消去法 127

第二节 奎恩—麦克拉斯基法 148

习题 163

第六章 最小测试集的生成方法 167

第一节 故障矩阵法 167

第二节 最佳通路覆盖法 189

第三节 单输出逻辑电路的最小测试集 206

习题 220

第七章 状态方程组的解法 222

第一节 迭代法 222

第二节 并行算法与时序机的矩阵模型 236

第三节 “枝”迭代与“树”迭代公式 249

习题 263

第八章 时序电路的线路测试法 265

第一节 状态表法 265

第二节 故障矩阵映射法 290

习题 305

第九章 时序机的检错实验 307

第一节 引导序列(HS)与同步序列(SS) 307

第二节 区分序列(DS)和状态判定 311

第三节 完全检错实验的设计 317

习题 324

第十章 时序机的功能测试 327

第一节 求最短同步序列的并行算法 327

第二节 求最短区分序列的并行算法 342

第三节 求最短引导序列的并行算法 360

第四节 故障检测表的构造方法 368

第五节 功能测试序列的构造方法 388

习题 396

参考文献 397

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