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Introduction 1

Application of Surface Analysis for Electronic Devices—P.H.HOLLOWAY 5

Electron Spectroscopy in Catalyst Research—J.S.BRINEN 24

In Situ AES and ESCA Analysis of Iron Oxides Formed by a Galvanic Cell—D.A.STOUT，G.GAVELLI，J.B.LUMSDEN，AND R.W.STAEHLE 42

Comparative AES，ESCA，and SIMS Investigation of Oxide Films on Iron-Nickel-Chromium Alloys—G.R.CONNER 54

Surface Composition of Copper-Nickel Alloys—D.T.LING，I.LINDAU，J.N.MILLER，AND W.E.SPICER 66

New Developments in Secondary Ion Mass Spectrometry—H.W.WERNER 81

Ion Scattering Spectroscopy—E.TAGLAUER AND W.HEILAND 111

Data Treatment in Electron and Ion Spectroscopy—W.L.BAUN 125

Energy Calibration of Electron Spectrometers—C.D.WAGNER 137

Application of a Vacuum Transfer Device for Exchange of Surface Standards—J.P.HOBSON AND E.V.KORNELSEN 148

Digital Data Acquisition and Processing in an Auger Electron Spectrometer—Y.E.STRAUSSER 158

Application of XPS Analysis to Research into the Causes of Corrosion—J.E.CASTLE 182

Summary 199

Index 203