逻辑测试和可测性设计pdf电子书版本下载

点此进入-本书在线PDF格式电子书下载【推荐-云解压-方便快捷】直接下载PDF格式图书。移动端-PC端通用
种子下载[BT下载速度快] 温馨提示：（请使用BT下载软件FDM进行下载）软件下载地址页 直链下载[便捷但速度慢]   [在线试读本书]   [在线获取解压码]

逻辑测试和可测性设计PDF格式电子书版下载

下载的文件为RAR压缩包。需要使用解压软件进行解压得到PDF格式图书。

建议使用BT下载工具Free Download Manager进行下载,简称FDM(免费,没有广告,支持多平台）。本站资源全部打包为BT种子。所以需要使用专业的BT下载软件进行下载。如 BitComet qBittorrent uTorrent等BT下载工具。迅雷目前由于本站不是热门资源。不推荐使用！后期资源热门了。安装了迅雷也可以迅雷进行下载！

（文件页数 要大于 标注页数，上中下等多册电子书除外）

注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具

逻辑测试和可测性设计第一章 逻辑测试技术简介1.1 逻辑电路 1

1.2 构造故障模型 3

1.3 测试问题 5

1.4 测试方案 8

第二章 测试生成 11

2.1 布尔差分 11

2.2 D算法 13

2.3 PODEM算法 19

2.4 FAN算法 22

2.5 时序电路的测试生成 29

第三章 故障模拟 35

3.1 模拟方法论 35

3.2 并行故障模拟 36

3.3 演绎故障模拟 37

3.4 同时故障模拟 41

3.5 硬件模拟器 44

第四章 测试复杂性 46

4.1 NP—完全性 46

4.2 多项式时间类 49

4.3 故障条件下的闭合性 52

第五章 可测性设计入门5.1 可测性 56

5.2 最低测试费用设计 59

5.3 组合逻辑与时序逻辑 61

5.4 特定设计和构造设计 62

第六章 最小测试操作费用设计6.1 异或门嵌入法 65

6.2 最小可测试设计 68

6.3 双方式逻辑 70

6.4 固定参考值测试 72

第七章 最小测试生成费用设计7.1 分割法和穷举测试 74

7.2 错症值可测设计 78

7.3 Reed-Muller规范形式 80

7.4 可编程逻辑阵列 82

第八章 时序电路扫描设计8.1 可移状态机 89

8.2 扫描设计方法 92

8.3 扫描设计的变型 97

8.4 不完全扫描设计和增强扫描设计 99

第九章 内部自测试设计9.1 特征码分析 102

9.2 内部逻辑块观测器 105

9.3 具有扫描设计的自测试 110

9.4 自验证 113