ECL微型电路的可靠性评价pdf电子书版本下载

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目 录 1

Ⅰ．序言 1

Ⅱ．一般情况 3

A．产品交货期 3

B．气密性试验 3

C．镀金 3

Ⅲ．电参数和电路 4

A．参数测试 4

B．发射极耦合逻辑电路 5

C．实际的ECL电路 6

D．输入／输出转换特性 7

E．噪声容限 9

F．开关时间测量 10

G．热阻测量 12

Ⅳ．结构分析 14

Ⅴ．寿命试验 17

A．极限寿命试验 17

B．长期寿命试验 21

A．失效模式及其电气分析 37

Ⅵ．失效判据和失效分析结果 37

B．失效机理 39

C．失效分析结果 48

D．讨论 49

Ⅶ．总结 50

A．失效模式与失效机理 50

B．可靠性预测和实验结果 56

C．金属化系统和玻璃保护层 57

D．电气性能 58

A．输入／输出转换特性（图A-1～A-42） 60

Ⅷ．附录 60

B．A厂10501型结构分析 74

C．A厂10506型结构分析 81

D．A厂1662型结构分析 86

E．B厂10101型和10106型结构分析 94

F．C厂10101型结构分析 106

G．C厂10106型结构分析 112

H．A厂10561型结构分析 119

I．D厂95101型结构分析 127

J．A厂10100系列参数规范 135

K．双列直插式封装镀锡管脚的化学腐蚀和镀金 136