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CMOS图像传感器封装与测试技术
  • (台)陈榕庭著;包军林译 著
  • 出版社: 北京:电子工业出版社
  • ISBN:7121028514
  • 出版时间:2006
  • 标注页数:294页
  • 文件大小:49MB
  • 文件页数:305页
  • 主题词:图象处理-传感器

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图书目录

第1章 半导体封装基本知识及CMOS图像传感器发展历史 1

1-1 半导体的定义 2

微电子工业发展 2

微电子材料 3

1-2 何谓半导体封装 6

1-3 现今半导体封装与图像传感器发展趋势 7

CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor) 9

CMOS图像传感器 9

1-4 何谓半导体图像传感器 9

1-5 半导体图像传感器演变历程 10

1-6 CMOS传感器应用及市场规模预估 11

CMOS传感器的应用 14

1-7 CMOS/CCD图像传感器的未来发展 19

国内市场趋势 19

可照相手机市场趋势 21

日本市场趋势 22

光学鼠标市场趋势 22

参考文献 26

第2章 半导体图像传感器封装流程 29

2-1 CMOS光学图像处理流程图示 30

2-2 CMOS图像光感应原理 32

BIN#(缺陷判定)的定义 34

视觉成像图素 36

2-3 半导体图像传感器——芯片制造流程 37

参考文献 43

第3章 半导体图像传感器基本结构 45

3-1 半导体图像传感器与数码相机 46

3-2 半导体图像传感器封装技术的层次及功能 48

3-3 半导体图像传感器封装种类 49

3-4 CMOS图像传感器模块结构设计 51

参考文献 56

第4章 半导体图像传感器封装材料简介 57

4-1 封装材料简介 58

基板材料 58

引线框材料 61

引线框的制作程序 62

粘胶材料 63

4-2 高分子封装材料的性质 68

结晶化、熔融及玻璃转换现象 68

结晶化(crystallization) 69

熔融(melting) 70

玻璃转换(glass transition) 70

熔点及玻璃转换温度 70

高分子材料的粘弹性 72

引线框的弹性和塑性形变 73

4-3 金属引线框和高分子基板的受力分析 73

热塑性和热固性材料(thermoplastic/thermosetting polymers) 73

引线框金属部分的塑性形变方式——滑移与孪晶 74

引线框金属体内的晶体滑移 75

高分子基板的受力断裂(fracture of polymers) 76

参考文献 77

第5章 半导体图像传感器封装工艺介绍(半自动) 79

5-1 CMOS封装设备简介(半自动) 80

5-2 CMOS封装前段制作工序(1) 82

贴片 84

晶圆进料检验 84

研磨(grinding) 87

撕片(de-taping) 88

晶圆贴片(wafer mount) 90

工序关键要点提示 91

5-3 CMOS封装前段制作工序(2) 91

晶圆切割(wafer saw/clean) 93

切割后目检(post saw inspection) 101

上片(die attach) 101

银胶烘烤(epoxy cure) 104

引线键合(wire bond) 106

工序关键点提示 123

5-4 后段工序 124

点胶/封盖(dispensor/sealing) 125

胶体固化(UV/thermo cure) 127

盖印(marking) 128

盖印后烘烤/UV并检测(post marking cure) 129

参考文献 131

第6章 半导体图像传感器封装工艺介绍(全自动) 133

6-1 CMOS封装工艺简介(全自动) 134

6-2 前段工艺(1)、(2) 135

6-3 前段工序(3)、(4) 151

全自动工艺人员检测部分 155

关键工艺 156

第7章 半导体图像传感器封装可靠性分析 157

7-1 产品可靠性的基本概念 158

7-2 可靠性测试的种类 160

7-3 可靠性试验项目 162

产品密封性试验 163

7-4 可靠性分析实例 172

7-5 封装散热分析 180

材料的散热分析 180

两材料结合面上的热应力分析 188

参考文献 197

第8章 材料界面的失效分析与设计 199

8-1 材料微结构键结 200

材料结合时的键合力与键合能 200

键合力与键合能(bonding forces and energies) 202

界面 204

8-2 材料界面能量与分子结合 204

界面性质分类 207

晶界 208

晶界理论 208

相界 209

扩散(diffusion) 210

扩散机制(diffusion mechanisms) 210

8-3 界面原子流动与热能设计 212

不同材料结合界面的性质 216

8-4 封装界面现象 216

界面原子的结合能和应力场 219

软性材料会提高有效结合能 220

参考文献 221

第9章 测试概论 223

9-1 封装的最终测试 224

CMOS传感器最终测试目的 224

交互式生产流程 224

测试技术分类 225

测试与检验 229

9-2 测试与检验技术 229

自动测试设备组成 231

故障诊断 232

9-3 CMOS逻辑IC最终测试类型及方法实例 233

开路/短路测试 233

广义漏电流/集电极电流测试 234

静态漏电流测试 235

动态漏电流测试 236

输入高电流/低电流测试 237

输出高电流/低电流测试 239

输出高电平/输出低电平测试 241

扫描测试 242

时序和波形测试 243

关于混合信号测试 246

参考文献 248

第10章 新型工艺技术 249

10-1 LCOS基本概念 250

何谓LCOS 250

LCOS面板的主要技术 252

LCOS投影技术 253

LCOS面板 253

LCOS光学引擎架构 254

LCOS投影技术的特点 256

LCOS高端应用 257

10-2 LCOS投影机的发展历史 257

LCOS投影机的历史和发展 258

LCOS投影机的构成 258

10-3 新型复合工艺技术 260

片上开关(in plane switching) 261

色彩滤光阵列(color filter on array) 261

液晶填充和滴定式封装(one drop fill/one drop assembly) 262

倒面组装(flip chip attachment) 263

柔性芯片(chip on film) 264

10-4 总结 265

参考文献 267

第11章 半导体图像传感器相关技术名词解释 269

附录A 常见的CMOS图像传感器各封装工序失效模式 283

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