聚合物表面分析 X射线光电子谱 XPS 和静态次级离子质谱 SSIMSpdf电子书版本下载

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第一章 引言 1

1．1 聚合物表面的重要性 1

1．2 聚合物表面和体相的差异 2

1．3 添加剂和污染物的影响 2

1．4 聚合物表面预处理及改性 4

1．5 与表面特性有关的深度范围 5

1．6 聚合物表面分析技术的要求 6

1．7 XPS简要历史 8

1．8 SIMS简要历史 9

第二章 X射线光电子谱（XPS） 13

2．1 仪器结构 13

2．2 物理基础 27

第三章 聚合物的XPS信息 50

3．1 样品荷电 50

3．2 结合能坐标基准 51

3．3 辐照损伤 53

3．4 内能级 55

3．5 震激伴峰（shake up satellite） 74

3．6 价带谱 79

3．7 Auger系列 82

3．8 官能团的标识（衍生作用） 84

3．9 非破坏性深度剖析 85

第四章 静态次级离子质谱（SSIMS） 89

4．1 仪器结构 89

4．2 物理基础 101

第五章 SSIMS信息 122

5．1 元素识别 122

5．2 聚合物谱 123

5．3 “小”分子谱 148

5．4 阳离子化 152

第六章 聚合物表面分析研究实例 157

6．1 引言 157

6．2 EMA共聚物的表面表征 158

6．3 生物医用聚氨酯的表面表征 163

6．4 放电处理对聚烯烃表面的改性 172

6．5 PVC/PMMA共混物的表面结构 181

6．6电活性聚合物 186

参考文献 191