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第一章 光学显微镜概况 1

第一节 概述 1

第二节 光学显微镜的工作能力 10

第二章 偏光显微镜 17

第一节 晶体光学的基础理论 17

第二节 偏光显微镜下材料的定性分析 28

第三节 透光材料折光率的测定方法 66

第四节 偏光显微镜下材料的定量分析 76

第五节 偏光显微镜下材料的系统研究 83

第三章 反光显微镜 90

第一节 反光显微镜的构造 90

第二节 反光显微镜下观察试样的制备 93

第三节 反光显微镜下材料的研究 99

第一节 暗场照明法 114

第四章 特殊显微技术 114

第二节 相衬显微镜 117

第三节 干涉显微术 122

第五章 电子显微镜 135

第一节 透射式电子显微镜 135

第二节 扫描电子显微镜(SEM) 146

第六章 X射线物理基础 159

第一节 X射线的基础知识 159

第二节 X射线发生装置 171

第三节 X射线的检测及安全防护 174

第七章 X射线衍射分析 177

第一节 X射线的衍射 177

第二节 布拉格方程式 178

第三节 X射线的衍射强度 181

第四节 晶体对X射线衍射的基本方法 190

第五节 粉末法(德拜法)及其原理 192

第六节 聚焦法 207

第七节 衍射仪法 210

第八节 X射线物相定量分析 215

第九节 定性相分析及X射线粉末衍射卡片(JCPDS卡片)的应用 219

第十节 晶粒度的测定 225

第八章 荧光X射线分析及电子探针微区X射线分析 230

第一节 荧光X射线分析 230

第二节 电子探针微区X射线分析 241

第九章 高温物相分析 250

第一节 概述 250

第二节 差热分析 250

第三节 失重分析 285

第四节 综合热分析 288

第五节 高温X射线分析 291

第十章 红外光谱分析 298

第一节 红外光谱的基本概念 298

第二节 红外分光光度计的构造及试样制备 300

第三节 影响红外吸收光谱的因素及谱线解释 304

第四节 红外分析在陶瓷领域中的应用 307

第十一章 表面分析仪器 308

第一节 概述 308

第二节 离子探针微区分析(IMMA) 310

第三节 光电子能谱分析(ESCA) 319

第四节 俄歇电子能谱分析(AES) 324

第五节 低能电子衍射(LEED) 326

第六节 场离子显微镜 328

第十二章 陶瓷材料综合研究实例 333

第一节 普瓷的研究 333

第二节 特瓷的研究 348

附表 360

X射线衍射分析常用表 360

参考书目 379