图书介绍
可靠性物理讲pdf电子书版本下载
- 华东师范大学物理系半导体教研室编 著
- 出版社： 上海电子设备工业公司中心试验站
- ISBN：
- 出版时间：1980
- 标注页数：162页
- 文件大小：18MB
- 文件页数：165页
- 主题词：
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图书目录
第一章 绪论 1
半导体器件可靠性研究工作发展概况 1
整机可靠性研究一例 8
第二章 晶体管基础知识 14
晶体三极管 14
MOS场效应晶体管 35
第三章 提高半导体器件可靠性的几种措施 44
MOS结构C—V法在工艺控制中的应用 44
利用栅控管及四极管研究表面对双极型晶体管性能的影响 66
其它常用测试结构 81
表面纯化 125
介质膜层部段陷的鉴定 149