图书介绍
可靠性与环境试验参考资料 IEEE可靠性物理年会论文集选编 2pdf电子书版本下载
- 著
- 出版社： 可靠性与环境试验编辑部
- ISBN：
- 出版时间：1984
- 标注页数：76页
- 文件大小：10MB
- 文件页数：78页
- 主题词：
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图书目录
加速试验技术 1
一种预测电迁移失效敏感性的可靠性工具——欧姆非线性脉冲技术的评价 1
步进应力在评价与时间有关的击穿问题上的应用 7
高加速温、湿度应力试验技术（HAST） 13
失效机理及封装可靠性 17
陶瓷电容器在低压直流应力下的漏电失效机理 17
氮化硅密封对MOS器件稳定性的影响 25
可靠性检测技术 33
一种利用集成电路芯片来测量电路封装体内相对湿度的简单方法 33
定量测量塑料封装引起的集成电路内应力的新方法 43
一种利用液晶检测半导体器件热点的方法 51
用容限电压测量来检测和判定数字微电路的缺陷 54
MOS器件静电放电灵敏度的检测方法 65
其他 69
芯片粘接界面的物理性质 69