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目录 1

第一章 引言 1

1.1 目的和范围 1

1.2 可靠性工程介绍 1

1.2.1 可靠度和寿命特性 1

1.2.2 可靠性退化 5

1.2.3 可靠性增长 5

1.3 本书的内容 6

参考文献 7

第二章 可靠性理论及应用 8

2.1 可靠性基本理论 8

2.1.1 指数失效模型 8

2.1.2 建立设备可靠性模型的方法 10

2.1.3 建立元件失效模型的方法 16

2.2 可靠性管理 19

2.3 研制阶段可靠性评价方法 22

2.3.1 预计方法 23

2.3.2 失效形式分析方法 26

2.3.3 可靠性试验 29

参考文献 32

第三章 军用机载电子系统 33

3.1 机载电子设备的发展趋向 33

3.2 机载电子设备的环境 37

3.3 设备可靠性的技术现状 40

3.4 总结和结论：1975年机载电子设备的发展趋向 41

参考文献 42

第四章 可靠性设计 43

4.1 最大限度提高固有可靠性的设计 43

4.1.1 元器件的选择与管理 43

4.1.1.1 元器件管理 44

4.1.1.2 元器件选择准则 46

4.1.1.3 元器件筛选 63

4.1.2 减额 70

4.1.2.1 温度-应力因素 71

4.1.2.2 特定减额准则 74

4.1.3 环境防护 88

4.1.3.1 环境因素 88

4.1.3.2 环境防护措施 90

4.1.3.3 对封装的一般考虑 93

4.1.4 贮备设计 94

4.1.4.1 基本概念 94

4.1.4.2 贮备技术 99

4.1.4.3 设计实例 104

4.1.5 设计的简化与分析 111

4.1.5.1 设计的简化 111

4.1.5.2 退化分析 113

4.1.5.3 过应力与瞬变分析 117

4.2 使生产和使用过程中的可靠性退化减至最少的设计 127

4.2.1 造成可靠性退化的因素 128

4.2.2 便于检查和维修的设计 130

4.2.2.1 硬件分单元设计 131

4.2.2.2 故障的判断 133

4.2.2.3 早期失效预计 135

4.3 费用设计 137

4.3.1 费用设计概述 137

4.3.2 费用和可靠性指标的确定 142

4.3.2.1 方案论证和审批阶段 143

4.3.2.2 研制与生产阶段 146

4.3.2.3 平衡设计管理 153

4.3.3 满足费用和可靠性指标要求 155

参考文献 162

附录A 定义、缩写词 166

附录B 参考文献介绍 172

附录C 单片微电路的失效率 180

附录D 标准电子管的特性与失效率 193