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目录 1

第一章　静电现象概论 1

§1.1 静电危害的产生 3

1.1.1　静电的产生和消失 6

1.1.2　电荷产生、消失、积累与材料等因素的关系 19

§1.2 绝缘击穿和静电放电 45

1.2.1　气体的电离 45

1.2.2　火花放电 54

1.2.3　电晕放电 72

1.2.4　沿面放电 80

1.2.5　静电放电和介质击穿 81

§1.3 防止静电危害的措施 88

1.3.1　静电放电危害的防止 88

1.3.2　防止带电的措施 93

第二章　静电的测试方法 103

§2.1 静电测量仪表 105

2.1.1　静电测量仪器的简单原理 106

2.1.2　若干常见的静电测量仪器 108

§2.2 静电以及静电危害的测量 118

2.2.1　电量的测量 118

2.2.2　电位的测量 123

2.2.3　静电噪声及电磁干扰的模拟 128

2.2.4　人体带电的测量 136

2.2.5　材料静电特性测试 149

2.2.6　放电现象的观测 168

第三章　半导体器件的防静电措施 176

§3.1 半导体器件的静电击穿现象 177

3.1.1　支配静电击穿的因素 177

3.1.2　器件的静电击穿 183

3.1.3　判断击穿的方法 199

3.1.4　半导体器件静电放电基础试验和理论进展概况 205

3.2.1　半导体器件静电击穿的实际状态 210

§3.2 器件击穿的实际状态 210

3.2.2　IC、LSI击穿的实际状态 219

§3.3 静电击穿的试验方法 228

3.3.1　人体模型法 229

3.3.2　器件带电模型 240

3.3.3　各种检测方法存在的共同问题 249

§3.4 耐击穿性能和器件的保护 252

3.4.1　Si器件 253

3.4.2　化合物半导体器件 277

§3.5 处理及使用半导体器件时的注意事项 282

3.5.1　各过程中的注意事项 283

3.5.2　考虑到用户时的注意事项 287

第四章　电子仪器的防静电措施 290

§4.1 静电噪声的防止 292

4.1.1　基础研究 292

4.1.2　静电放电噪声模拟装置 300

4.1.3　防静电噪声的措施 310

§4.2 电子计算机的防静电措施 339

4.2.1　电子计算机的环境因素 340

4.2.2　小型机系统的防静电措施 348

4.2.3　终端的防静电措施 363

§4.3 磁带录象机及家用电器的防静电措施 377

4.3.1　磁带录象机的防静电措施 377

4.3.2　彩色电视机的防静电措施 387

4.3.3　录音机的防静电措施 396

第五章　防静电危害的环境设计 403

§5.1 环境设计的要点 404

5.1.1　事后处理的环境设计 404

5.1.2　事前处置的环境设计 411

§5.2 静电管理 419

5.2.1　人体带电的管理 420

5.2.2　物品类带电的管理 426

§5.3 尺寸效应 429

主要参考文献 433