数据域测试及仪器 第2版pdf电子书版本下载

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第一章 数据域测试的基本概念 7

第一节 数字系统的测试 7

第二节 穷举测试法 16

第三节 故障表方法 23

第二章 组合逻辑电路的测试 35

第一节 通路敏化 35

第二节 d算法 41

第三节 临界通路法 55

第四节 布尔差分法 56

第五节 故障字典 68

第三章 时序逻辑电路的测试 73

第一节 迭接电路法 73

第二节 时序故障表法 79

第三节 状态变迁检查法 87

第四节 时延测试 94

第四章 微机系统的测试 104

第一节 存贮器的测试 104

第二节 微处理器的测试 113

第三节 利用被测系统的应用程序进行测试 123

第四节 利用总线观察进行测试 133

第五章 数字系统的计算机辅助测试 135

第一节 计算机辅助测试的基本概念 135

第二节 d算法程序 138

第三节 扩展d算法程序 142

第四节 PODEM算法 149

第五节 微处理器测试产生程序 152

第六节 故障模拟 157

第六章 可测性设计 164

第一节 可测性的测度 165

第二节 可测性设计方法 170

第三节 组合电路的异或门串联结构 178

第四节 内测试设计 181

第五节 边缘扫描技术 187

第七章 数据域测试仪器 198

第一节 简易逻辑测试仪 198

第二节 特征分析仪 201

第三节 逻辑分析仪 213

第四节 GP-IB母线分析仪 240

第五节 数据信号发生器 248

第六节 开发系统 259